原題
A QUALITY INDEX FOR TOTAL SKIN IRRADIATION (TSI-QI): VALIDATION FOR TOTAL SKIN ELECTRON IRRADIATION AND TOTAL SKIN HELICAL IRRADIATION TECHNIQUES.
背景:TSI技術には標準化された測定基準がない。本研究では、線量均一性、深度低下、X線汚染の複合であるTSI QIを提案した。
方法:擬人化ファントム中のX線撮影フィルムは、入口から出口への線量プロファイルを生成した。導出された均一性(Hf)、フォールオフ(Df)、および汚染(Xf)は、臨床閾値に正規化され、合計される:TSI QI=Hf+Df+Xf。
結果:Stanford TSEIは0.554(許容範囲),helical TSHIは1.893(しきい値超過)であった。
結論:TSI QIは、QA、施設間比較、および安全でないTSIプロトコルの特定のための簡単な定量的ツールを提供する。
Journal: Pract Radiat Oncol (CiteScore 2022: 4.6)
DOI: 10.1016/j.prro.2025.10.015
PMID: 41290075
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